8Inch 200mm 4H-N SiC Wafer Conductive дамми судалгааны зэрэгтэй

Товч тодорхойлолт:

Зам тээвэр, эрчим хүч, аж үйлдвэрийн зах зээл хөгжихийн хэрээр найдвартай, өндөр хүчин чадалтай цахилгаан хэрэгслийн эрэлт нэмэгдсээр байна.Хагас дамжуулагчийн гүйцэтгэлийг сайжруулах хэрэгцээг хангахын тулд төхөөрөмж үйлдвэрлэгчид манай 4H n төрлийн цахиурын карбид (SiC) хавтан зэрэг өргөн хүрээтэй хагас дамжуулагч материалыг хайж байна.


Бүтээгдэхүүний дэлгэрэнгүй

Бүтээгдэхүүний шошго

Өвөрмөц физик болон электрон шинж чанараараа 200 мм-ийн SiC хавтанцар хагас дамжуулагч материалыг өндөр хүчин чадалтай, өндөр температурт, цацрагт тэсвэртэй, өндөр давтамжийн электрон төхөөрөмж бүтээхэд ашигладаг.Технологи илүү дэвшилтэт болж, эрэлт хэрэгцээ нэмэгдэхийн хэрээр 8 инчийн SiC субстратын үнэ аажмаар буурч байна.Сүүлийн үеийн технологийн хөгжил нь 200 мм-ийн SiC хавтанцар үйлдвэрлэхэд хүргэж байна.Si ба GaAs хавтантай харьцуулахад SiC хавтанцар хагас дамжуулагч материалын гол давуу талууд: Нуранги нуралтын үед 4H-SiC-ийн цахилгаан талбайн хүч нь Si ба GaAs-ийн харгалзах утгаас хэд дахин их байна.Энэ нь төлөвийн эсэргүүцлийн Рон мэдэгдэхүйц буурахад хүргэдэг.Төлөвийн эсэргүүцэл багатай, өндөр гүйдлийн нягтрал ба дулаан дамжилтын илтгэлцүүртэй хослуулсан нь цахилгаан төхөөрөмжүүдийн хувьд маш жижиг хэмжигдэхүүнийг ашиглах боломжийг олгодог.SiC-ийн өндөр дулаан дамжуулалт нь чипийн дулааны эсэргүүцлийг бууруулдаг.SiC хавтан дээр суурилсан төхөөрөмжүүдийн электрон шинж чанар нь цаг хугацааны явцад маш тогтвортой, температурын хувьд тогтвортой байдаг нь бүтээгдэхүүний өндөр найдвартай байдлыг баталгаажуулдаг.Цахиурын карбид нь хатуу цацрагт маш тэсвэртэй тул чипийн электрон шинж чанарыг алдагдуулдаггүй.Кристалын ажлын өндөр хязгаарлагдмал температур (6000С-аас дээш) нь хатуу ширүүн үйл ажиллагааны нөхцөл, тусгай хэрэглээнд зориулагдсан өндөр найдвартай төхөөрөмжийг бий болгох боломжийг олгодог.Одоогийн байдлаар бид 200 ммSiC хэмжээтэй жижиг багцыг тогтмол, тасралтгүй нийлүүлж, агуулахад тодорхой хэмжээний нөөцтэй байна.

Тодорхойлолт

Тоо Зүйл Нэгж Үйлдвэрлэл Судалгаа Дамми
1. Параметрүүд
1.1 политип -- 4H 4H 4H
1.2 гадаргуугийн чиг баримжаа ° <11-20>4±0.5 <11-20>4±0.5 <11-20>4±0.5
2. Цахилгааны параметр
2.1 допант -- n төрлийн азот n төрлийн азот n төрлийн азот
2.2 эсэргүүцэл ом ·см 0.015~0.025 0.01~0.03 NA
3. Механик үзүүлэлт
3.1 диаметр mm 200±0.2 200±0.2 200±0.2
3.2 зузаан мкм 500±25 500±25 500±25
3.3 Ховилын чиг баримжаа ° [1- 100]±5 [1- 100]±5 [1- 100]±5
3.4 Ховилын гүн mm 1~1.5 1~1.5 1~1.5
3.5 LTV мкм ≤5(10мм*10мм) ≤5(10мм*10мм) ≤10(10мм*10мм)
3.6 TTV мкм ≤10 ≤10 ≤15
3.7 Нум мкм -25~25 -45~45 -65~65
3.8 Муухай мкм ≤30 ≤50 ≤70
3.9 AFM nm Ra≤0.2 Ra≤0.2 Ra≤0.2
4. Бүтэц
4.1 бичил хоолойн нягт ea/cm2 ≤2 ≤10 ≤50
4.2 металлын агууламж атом/см2 ≤1E11 ≤1E11 NA
4.3 TSD ea/cm2 ≤500 ≤1000 NA
4.4 BPD ea/cm2 ≤2000 ≤5000 NA
4.5 TED ea/cm2 ≤7000 ≤10000 NA
5. Эерэг чанар
5.1 урд -- Si Si Si
5.2 гадаргуугийн өнгөлгөө -- Si-face CMP Si-face CMP Si-face CMP
5.3 бөөмс ea/wafer ≤100(хэмжээ≥0.3μм) NA NA
5.4 зураас ea/wafer ≤5,Нийт урт≤200мм NA NA
5.5 Ирмэг
чипс / догол / ан цав / толбо / бохирдол
-- Байхгүй Байхгүй NA
5.6 Политип талбайнууд -- Байхгүй Талбай ≤10% Талбай ≤30%
5.7 урд талын тэмдэглэгээ -- Байхгүй Байхгүй Байхгүй
6. Арын чанар
6.1 арын дуусгах -- С нүүртэй УИХ-ын гишүүн С нүүртэй УИХ-ын гишүүн С нүүртэй УИХ-ын гишүүн
6.2 зураас mm NA NA NA
6.3 Арын гажиг ирмэг
чипс/догол
-- Байхгүй Байхгүй NA
6.4 Нурууны барзгар байдал nm Ra≤5 Ra≤5 Ra≤5
6.5 Буцах тэмдэглэгээ -- Ховилын Ховилын Ховилын
7. Ирмэг
7.1 ирмэг -- Хагархай Хагархай Хагархай
8. Багц
8.1 сав баглаа боодол -- Вакуумаар эпи-бэлэн
сав баглаа боодол
Вакуумаар эпи-бэлэн
сав баглаа боодол
Вакуумаар эпи-бэлэн
сав баглаа боодол
8.2 сав баглаа боодол -- Олон төрлийн вафель
кассет сав баглаа боодол
Олон төрлийн вафель
кассет сав баглаа боодол
Олон төрлийн вафель
кассет сав баглаа боодол

Нарийвчилсан диаграмм

8 инчийн SiC03
8 инчийн SiC4
8 инчийн SiC5
8 инчийн SiC6

  • Өмнөх:
  • Дараачийн:

  • Энд мессежээ бичээд бидэнд илгээгээрэй